作為組成半導體器件的基本結(jié)構(gòu)的PN結(jié)具有電容效應（勢壘電容）。加正向偏壓時，PN結(jié)勢壘區(qū)變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓時，PN結(jié)勢壘區(qū)變寬，勢壘電容變小。

是測試頻率為1MHz的智能化數(shù)字的電容測試儀器，于測試半導體器件PN結(jié)的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。

面板上的發(fā)光二極管指示儀器的工作狀態(tài)，用數(shù)碼管組成的顯示板，將被測元件的數(shù)值，小數(shù)點清晰地顯示出來。儀器有較高的分辨率，電容量是四位讀數(shù)，可分辮到0.01pF，偏置電壓分辨力為0.1V，漏電流分辨力為0.01uA。

儀器配有CV-2000型測量座，接插元件靈活，方便可靠。

技術(shù)指標 ：

測試信號頻率 1.000MHz±0.01%

測試信號電壓小于或等于100mVrms

電容測量范圍 1.00pF～1000pF

工作誤差±3.0%±2字

直流偏壓 zui大100V

供電電源交流電壓：220V±5%；
 頻率： 50Hz±5%；
 消耗功率：不大于40W；

工作環(huán)境溫度：0—40℃；
 濕度：20%~90%RH 40℃；